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Directrices de examen y procedimiento de registro de patentes

Tipo de material: TextoTextoDetalles de publicación: INAPI Santiago, Chile 2013Descripción: 224pTema(s): Democracia | Propiedad industrial | Libros electrónicosRecursos en línea: Texto completo descargable INAPI Resumen: Estas directrices se encuentran divididas en dos grandes secciones: Presentación de solicitudes de patente y procedimiento de tramitación; y Examen de fondo. La primera sección se refiere a los requisitos de presentación de las solicitudes de patente y el procedimiento de tramitación, incluyendo el examen de forma y el procedimiento contencioso. La segunda sección trata el examen de fondo de las solicitudes, desarrollando los criterios aplicables a la revisión de los requisitos sustantivos de patentabilidad.
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Estas directrices se encuentran divididas en dos grandes secciones:
Presentación de solicitudes de patente y procedimiento de tramitación; y
Examen de fondo.
La primera sección se refiere a los requisitos de presentación de las solicitudes de
patente y el procedimiento de tramitación, incluyendo el examen de forma y el procedimiento
contencioso.
La segunda sección trata el examen de fondo de las solicitudes, desarrollando los
criterios aplicables a la revisión de los requisitos sustantivos de patentabilidad.

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